走査型電子顕微鏡
そうさがたでんしけんびきょう
名詞
標準
scanning electron microscope
作例 · 標準
材料科学の分野では、物質の表面構造を詳細に調べるために走査型電子顕微鏡が不可欠だ。
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この走査型電子顕微鏡で撮影された画像は、驚くほど鮮明で、ナノスケールの世界を垣間見せてくれる。
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「走査型電子顕微鏡を使えば、昆虫の複眼のような微細な構造もくっきりと観察できますよ」と、研究者は説明した。
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ウィキペディア
走査型電子顕微鏡 は電子顕微鏡の一種である。電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子（後方散乱電子、BSE）、透過電子、X線、カソードルミネッセンス（蛍光）、内部起電力等を検出する事で対象を観察する。通常は二次電子像が利用される。透過電子を利用したものはSTEM（走査型透過電子顕微鏡）と呼ばれる。